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詳細介紹
BeVision D3動態圖像粒度儀/粒度粒形分析儀是一款全新開發的具有優良水平的自動化粒度粒形分析儀。其采用動態圖像法的測量原理，搭載BV-F10干法重力分散器和雙CMOS數字成像系統。樣品裝載在料斗中，料槽通過振動分散和運送顆粒，顆粒在自由落體運動過程中進一步分散，同時高速相機采集運動顆粒圖像并進行實時分析，幾分鐘即可完成測試，輸出粒徑粒形結果，為流動性和分散性較好的顆粒和粉體材料測量提供了效率的解決方案。
全新開發的BeVision 5.0軟件不僅能夠提供37個粒度、粒形測量參數的分布結果及多種關鍵統計量，更多的升級功能和新增功能能夠幫助用戶實現更加全和便捷的數據分析工作。
BeVision D3動態圖像粒度儀/粒度粒形分析儀基本性能指標
| BeVision D3 Pro | BeVision D3 | BeVision D3 Macro | BeVision D3 Zoom | |
| 測量原理 | DIA | DIA | DIA | DIA |
| 光學系統 | 雙相機聯用系統 | 單相機系統 | 單相機系統 | 單相機系統 |
| 測量范圍* | 0.5 μm~16 mm | 11.5 μm~16mm | 20μm~26mm | 0.5μm~940μm |
| ISO測量范圍* | 2 μm~8 mm | 35μm~8 mm | 58 μm~13 mm | 2 μm~470 mm |
| CMOS相機 | 500萬像素 | 500萬像素 | 500萬像素 | 500萬像素 |
| 光源 | 綠色光源及藍光光源 | 綠色光源 | 綠色光源 | 藍光光源 |
| 重復性(標準物質D50) | ≤0.5% | ≤0.5% | ≤0.5% | ≤0.5% |
| 粒徑參數 | 面積等效徑、周長等效徑、最小外接矩形長徑、最小外接矩形短徑、最大費雷特直徑、最小費雷特直徑、費雷特共軛徑、勒讓德橢圓長軸、勒讓德橢圓短軸、馬丁長徑、馬丁短徑、測地線、厚度、篩分徑 | |||
| 粒形參數 | 長徑比、縱橫比、圓形度（11種算法）、橢圓率、延伸率、平直度、不規則度、緊湊度、擴展性、填充率、堅固性、凸度、凹度 | |||
| 結果輸出類型 | 粒徑粒形分布圖及分級數據、散點圖、單顆粒圖像、單顆粒粒徑粒形數據、9種類型的典型值（可自定義） | |||
| 結果輸出格式 | 圖表輸出：excel、txt.、JPG、BMP 報告單：PDF、excel | |||
| 粒徑粒形分級 | 可自定義 | |||
| 尺寸（長×寬×高） | 686mm×300mm×325mm | |||
| 重量 | 24kg | |||
| 電源 | 100-240VAC，50/60Hz | |||
| 符合標準 | ISO 13322-2、ISO 9276、GB/T 21649、GB/T 15445 | |||
| 電腦配置 | Intel Core i9，14代CPU，RAM 32.0GB， 64位 Window 10以上系統， 1T以上SSD | |||
| BV-F10干法重力分散器選配件 | ||||
| 料斗 | 150ml不銹鋼料斗、600ml不銹鋼增量附件 | |||
| 料槽 | 高摩擦系數不銹鋼料槽、低摩擦系數不銹鋼料槽 | |||
| *測量范圍指實際能夠達到的粒徑測量范圍 *ISO測量范圍指符合ISO13322-2標準定義的粒徑測量范圍 | ||||
應用領域
● 塑料原料生產與質量控制
● 礦物加工與選礦
● 農業產品
● 催化劑與吸附材料
● 食品原料品質及加工控制
● 磨料
● 粉體研發與質量控制
● 藥物制劑開發與生產
● 新能源材料
● 3D打印材料
突出特點
● 雙CMOS同步測量，一次測量即可輸出寬分布結果
● 對窄分布樣品具有高分辨率
● 微量過大或過小顆粒都能夠準確檢測
● 結果可以與篩分結果進行擬對
● 高分辨相機以獲得最清晰的顆粒圖像
● 高均勻性單色面光源及物方遠心鏡頭確保圖像無透視、無畸變，成像準確
● 自動調節進料速度，使分散效果、測試效率、重復性均達到最佳
● 自動從結果中剔除雜質、灰塵、連接顆粒，讓判斷不受干擾
● 通過顆粒特征篩選，可進行混合物中的單一組分測量
● 連接顆粒自動識別，確保測量結果準確可靠
● 標準化測試流程，結果不受人為影響
● 測試效率高，典型測量時間約3min
● 良好的重復性及重現性
● 操作簡單、自動化程度高
● 無樣品量限制
● 幾乎無需維護
良好的重復性
對于窄分布的玻璃珠，BeVision D3能夠為粒徑測量提供甚至優于0.1%的重復性。
對于寬分布且形狀極不規則的破碎大豆顆粒，其D50的重復性依舊優于0.5%。
全面的粒度粒形分析
BeVision D3能夠從長度、直徑和彎曲程度三方面對棒狀的石油裂解催化劑進行全面的評價。其測量結果與對顆粒特征的直觀判斷高度一致。
準確測量含量極少的過大顆粒
6分鐘檢測了超過100萬個著色劑顆粒，分布圖顯示其含有極少量的過大顆粒，通過圖像可判斷出每個過大顆粒都是由多個著色劑小顆粒形成的團聚體。
對窄分布具有高分辨率
磨料中存在過大或過小的顆粒都會影響研磨效果。BeVision D3在測量過程中對每一個捕捉到的顆粒進行計算，再對所有顆粒進行統計分析，分辨率可準確到具體顆粒。并且BeVision D3能夠按照用戶需求輸出準確的過大顆粒和過小顆粒含量。另外還能夠同步測量粒形，評價磨料顆粒的鋒利度。
測量結果可與篩分結果擬對
BeVision D3測量的粒徑參數中的篩分徑算法與篩分法的測量原理進行匹配，能夠提供接近篩分的粒徑結果，并且通過篩分擬對功能，能夠對由測量原理、顆粒形狀、統計學方法等客觀因素導致的固定差異進行自動補償，直接輸出與篩分一致的粒徑分布結果。
BeVision D3直接輸出的粒徑分布與篩分結果具有一致性。用戶可從篩分法零難度的切換為BeVision D3，大大提高測量效率，降低人力成本。
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