遮光率可定義為顆粒在光束中的遮光截面與光束總面積之比，使用中常由被顆粒散射和吸收掉的光占輸出光總量(扣除背景散射)的百分比表示。因此遮光率又稱光學(xué)濃度。具體計算方法是用激光透過純凈介質(zhì)后探測器中心點的光強與加入樣品后探測器中心點的光強的差除以光強，通常激光粒度儀的*遮光率在百分之十到十五之間。
光學(xué)濃度與顆粒的體積百分比濃度不同，前者與顆粒大小有關(guān)，顆粒越小，比表面積越大，遮光能力就越強。因此，體積濃度相同的兩種樣品中，較小顆粒在激光粒度儀中會顯示更大的光學(xué)濃度。
干濕一體型激光粒度儀使用中關(guān)于折射率問題的分析：
米氏(MIE)理論是考慮了物質(zhì)對光的吸收與各種電磁作用來計算散射強度的理論。因此折射率是米氏計算一項*的參數(shù)。通常在軟件設(shè)計中要計算幾種折射率不同的模型來適用于不同物質(zhì)的顆粒。因此折射率產(chǎn)生于測試之前，而不是顆粒粒度測量的結(jié)果。
因此使用激光粒度儀測試，首先需要確定樣品的折射率，一般的用戶根本不知道要測量的產(chǎn)品折射率的準(zhǔn)確參數(shù)(據(jù)檢索目前尚無一種儀器可以準(zhǔn)確測量粉末的折射率，折射率表中表示的只是物質(zhì)的折射率，而非粉末的折射率，二者之間有很大差別)。
實際上研究結(jié)果表明，顆粒粒度測量的準(zhǔn)確度，不僅與折射率有關(guān)，而且與顆粒形狀，顆粒表面狀態(tài)，顆粒濃度都有關(guān)，而后二者影響程度并不小于前者。
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