激光粒度儀是通過顆粒的衍射或散射光的空間分布（散射譜）來分析顆粒大小的儀器，采用衍射及Mie散射理論，測試過程不受溫度變化、介質黏度，試樣密度及表面狀態等諸多因素的影響，只要將待測樣品均勻地展現于激光束中，即可獲得準確的測試結果。
不同激光粒度儀測量結果差異的深層原因探討：
激光粒度分析儀已有大約50年的歷史，現在已經成為世界上占主導地位的粒度分析設備。但是，還有一個問題困擾著用戶：當使用不同品牌的激光粒度儀，甚至使用同一個品牌不同型號的激光粒度儀測量同一個顆粒樣品時，結果差別很大，有時大到無法比較。設計和制造之間的不一致、樣品處理的差異和操作誤差將導致測量結果的差異。但是不同激光粒度儀的測量結果差別太大，無法比較，不能用上述原因來解釋。作者認為，這些差異至少有以下深層原因：
（1）用液體作待測顆粒的分散介質時，當前市面上流行的各種激光粒度儀都用平板玻璃作測量窗口，存在全反射的限制，從而造成散射角90°周圍存在測量盲區（照明光正入射時，理論盲區范圍為49°，實際的盲區比理論盲區還要大）。如果顆粒的散射光能分布的峰值正好處在盲區中，則粒徑測量的可靠性將急劇下降。有的任由盲區的存在不去（從物理上）解決，有的解決了一部分，有的解決了一部分但造成新的問題。上述對全反射盲區的無視或者解決方案不一樣，必然造成測量結果的不一樣。影響的粒徑區域在在0.10.4?m。
（2）透明顆粒的光散射存在愛里斑的反常變化（ACAD）現象 [2]。它破壞了散射光能分布與粒度分布之間的一一對應關系[3]。用通常的反演算法，會造成粒度分布結果的不穩定或者嚴重偏離真值（例如單峰分布變成多峰分布）。目前有的制造商通過改進算法，從根本上解決了它的影響；其他制造商則是在數據分析時給顆粒加一個吸收系數（通常取0.1），這樣表面上會使粒度反演結果穩定。但是憑空認為透明顆粒有吸收，會導致反演獲得的粒度分布曲線在1μm附近鼓起一個假峰（英文稱為Ghost peak）。有的制造商強行把這個假峰減掉，但會導致這個粒徑附近真有少量顆粒時，也測量不到。有的制造商只是加吸收，不作其他處理，保留了這個假峰。所以當被測顆粒樣品的粒徑處在反常區時，有的結果不穩定，有的有假峰，有的假峰沒了但真有顆粒也測不出來了，有的能測到真實的粒度分布。凡此種種原因，導致相互之間要對比結果就不可能了。ACAD的影響區域在0.4，顆粒的折射率越小，反常取中心的粒徑位置越大。
（3）反演算法的問題。理論上不論采用哪一種反演算法，只要能獲得足夠準確的散射光能分布數據，基本上都能得到正確的粒度反演結果（因為反演算法必然經過制造商的反復驗證，否則不會被采用），因而各種的結果應該是一致的。但事實上如前文所述，目前沒有一種能得到全角度的散射光能分布數據，但又想給出完整（即包含0.10.4?m的顆粒）的粒度分布結果，就不得不通過軟件對原始的反演結果進行多種修飾性的處理（比如延伸、內插、平滑等等）；另外ACAD現象也迫使制造商對反演計算過程進行特殊處理；由上述兩個問題又延伸出一種包含多種數據反演模式的問題。對同樣的原始光能數據，不同模式給出不同的粒度分析結果；同一種品牌的產品，型號變了，結構也變，數據修飾的方法也得改變。以上軟件方面的原因，導致同一種（選不同的模式時）會給出不同的結果；同一種品牌不同的型號也有不同的結果；不同品牌之間的結果就更加難以比較了。
從以上分析也可看出，13μm以粗的顆粒不存在ACAD的問題；散射光能分布的主峰也在2°范圍內，各種都能接收；因此不同的結果就具有較好的可比性。
如果想在激光粒度儀的全量程（0.1?m至數千微米）上解決不同的測量結果對比問題，至少應在技術上解決前述的三大問題，即消除全反射盲區、用正確的方法消除ACAD的影響、統一數據反演算法（放棄一種含多種反演模式）。這需要quan球從事靜態光散射法粒度測量技術研究的學者和制造商共同努力。
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