Bettersize3000
激光粒度儀是百特集多年的研發成果和技術積累研制的一款高性能激光粒度粒形分析系統，具有粒度測量范圍寬、分辨力和靈敏度高、準確性和重復性好、操作簡便等突出特點，同時兼具粒形分析功能。
1、雙鏡頭斜入射光學系統提高了粒度測試的精度
Bettersize3000采用雙鏡頭斜入射的精密光學系統，探測角度達0.02-165°，測量范圍達到0.01-3500μm，無論是毫米級顆粒，微米級顆粒，還是納米級顆粒，系統都能地捕捉，從原理上充分保障了測量精度和更高的性能。目前國外激光粒度儀普遍采用雙光源光學系統來增大探測角度，提升測試范圍，包括同軸雙光束系統和異軸雙光束系統。
與雙光束系統相比，百特雙鏡頭斜入射光學系統有明顯優勢，一是可靠性高。因為雙鏡頭增加的是一個無源器件——鏡頭，雙光束增加的是一個有源器件——激光器，無源器件的壽命和可靠性遠遠高于有源器件。二是基準。百特光學系統是單一偏振光光源，各個探測器上接收的散射光強基準都是源于這個光源，具有的基準。而雙光束系統是兩個光源，各個探測器上接受到的散射光強基準有兩個，會造成測量誤差。第三，信號連續。雙鏡頭系統在所有探測器上的信號是連續采集、沒有間斷的。而雙光源系統，兩個光源輪流工作，每個光源對應一組散射信號，反演計算時需要將這兩組信號進行擬合，造成數據的不連續、不完整，對測量結果有很大影響。第四，樣品折射率測量功能。樣品的折射率是激光粒度分析的重要參數，并且它與波長有關。Bettersize3000能得到任何樣品的折射率，從而保證對未知折射率（包括實部和虛部）的樣品能準確測量其粒度分布。而多光束系統采用不同波長的光源，照理應有多個的折射率，而實際上是用一個折射率，將直接影響細顆粒的粒度測試準確性。
2、Bettersize3000動態粒形分析-粒度和粒形二合一
除具有*的粒度測試性能外，Bettersize3000Plus還有動態粒形分析功能，成為粒度和粒形二合一分析系統。動態粒形分析系統包括顯微鏡、高速攝像機和高速圖像處理軟件三部分組成，分析的粒形參數包括顆粒的圓形度、長徑比、徑厚比、大粒徑等。同時，就粒度測試而言，可視化的顆粒圖像成為激光粒度儀上的一個明亮的“眼睛”，與激光法粒度數據相互認證，使粒度測試更具有真實性。
Bettersize3000是百特粒度粒形分析技術達到的新高度，它所集成的雙鏡頭技術、折射率測量技術、激光散射/顯微圖像二合一技術、一鍵操作技術等粒度粒形分析技術，代表著粒度粒形分析技術發展的新成果。
歡迎來到丹東百特儀器有限公司網站！
