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在傳統的動態光散射法粒度測試中，為了避免復散射 (Multiple scattering) 現象，需要盡量降低樣品的濃度，有時甚至看上去都是澄清透明的。而實際上大多數膠體產品原樣的濃度都在 5% 以上，外觀是渾濁的。對這樣的樣品，用傳統光子相關光譜法分析前要做高倍率的稀釋，這既不便于使用，又可能會破壞膠體的穩定性，因此用于高濃度下的后向動態光散射技術 應運而生。
為了降低復散射光在信號光中的比重，將發射端和接收端布置于試樣的同側，即測量后向散射光信號，并適當控制散射區域大小， 可以獲得即減少復散射的影響，又能測量高濃度樣品的效果。
上圖是后向散射光測量的示意圖。激光器發出的光經 2+1 光耦合器進入一單模光纖。激光從光纖射出被納米顆粒散射后，其散射光又被該單模光纖接收，疊加在光纖端表面并返回，經光耦合器到達光探測器被檢測。對檢測到的信號作傅里葉變換得到動態光散射信號的功率譜，然后對不同頻段的功率譜信號用 Stocks-Einstein 公 式處理，就可以得到納米顆粒的粒度分布。
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